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高低溫沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),適用于對(duì)電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高低溫溫度冷熱沖擊試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)備,可滿足電工電子產(chǎn)品及設(shè)備等環(huán)境試驗(yàn) - 高溫試驗(yàn)/低溫試驗(yàn)/溫度變化試驗(yàn)/高低溫沖擊試驗(yàn)/溫度沖擊試驗(yàn)/冷熱沖擊試驗(yàn)。皓天高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱均以氣體為媒介實(shí)現(xiàn)快速溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)康模罁?jù)溫區(qū)布局分兩箱溫度沖擊試驗(yàn)箱和三箱溫度沖擊試驗(yàn)箱,可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,具有高低溫交變?cè)囼?yàn)箱的功能。(注:冷熱沖擊試驗(yàn)箱無(wú)法進(jìn)行濕熱試驗(yàn)?。?/span>
計(jì)量方法:
1、計(jì)量在空載條件下進(jìn)行。若帶有負(fù)載,應(yīng)在證書(shū)中說(shuō)明負(fù)載情況。
2、計(jì)量濁濕度點(diǎn)一般應(yīng)選擇設(shè)備使用范圍的上限、下限及中心點(diǎn),也可根據(jù)用戶需要選擇實(shí)際常用的溫濕度點(diǎn)
計(jì)量點(diǎn)的位置:
1、環(huán)境試驗(yàn)箱工作室容積大于2m3時(shí),溫度點(diǎn)十五個(gè),溫度點(diǎn)四個(gè)
2、環(huán)境試驗(yàn)箱工作室容積小于2m3時(shí),溫度點(diǎn)九個(gè),濕度點(diǎn)三個(gè)
1、偏差:設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各測(cè)量點(diǎn)的實(shí)測(cè)高值和實(shí)測(cè)低值與標(biāo)稱(chēng)值的上下偏差。
2、均勻度:環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間某一時(shí)刻各測(cè)試點(diǎn)(溫濕度)之間
的差異;
3、波動(dòng)度:環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間中心點(diǎn)參數(shù)隨時(shí)間的變化量;
計(jì)量特性:溫濕度偏差、溫濕度波動(dòng)度、溫濕度均勻性。